Statistische Scandatenauswertung von Reifenoberflächen ungefahrener Multisection-Testreifen
- Forschungsthema:Cut and Chip
- Typ:Masterarbeit
- Datum:abgeschlossen
- Betreuung:
- Links:Text als pdf
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Abschlussarbeit
Statistische Scandatenauswertung von Reifenoberflächen ungefahrener Multisection-Testreifen
Keywords:
Statistische Datenanalyse, Reifenherstellungsprozess
Motivation:
Vor allem im Nutzfahrzeugsektor spielt die Langlebigkeit der verbauten Komponenten aufgrund von hohen Leistungsansprüchen der Betreiber eine übergeordnete Rolle. Der über die Laufleistung durch Einschnitte und ausgebrochenes Gummimaterial geschädigte Laufstreifen soll dennoch möglichst lange und zuverlässig seine Funktion erfüllen. Am Institut für Fahrzeugsystemtechnik des KIT werden daher Messungen durchgeführt, die die Schädigung der Reifen durch Schnitte und ausgebrochenes Gummimaterial und den Fortschritt dieser Schädigungen untersuchen.
Ziel der Arbeit:
Im Rahmen dieser Abschlussarbeit sollen Laserscandaten von neuen und damit ungefahrenen Reifenoberflächen spezieller Multisection-Testreifen analysiert und Abweichungen der Gestalt vom Ideal auf deren Herkunft untersucht werden.
Voraussetzungen:
Hohe Eigenmotivation, selbstständige Arbeitsweise, Programmiererfahrung
- vorzugsweise mit MATLAB – so wie Erfahrung mit der Datenanalyse sind zwingend notwendig.Bewerbung:
Die Arbeit ist theoretischer Art und wird umfangreich vom Betreuer unterstützt. Sie kann in Deutsch oder Englisch verfasst werden. Bei Interesse zur Arbeit bitte die Bewerbung (kurzes Anschreiben mit Darlegung etwaiger Qualifikationen, CV und Notenauszug) an den Ansprechpartner senden bzw. bei Fragen direkt ansprechen.
Start: ab sofort Ansprechpartner: M.Sc. Michael Foitzik
Telefon: 0721 608 45370
Email: michael.foitzik@kit.edu