Inhalt und Ziele

Vor allem im Nutzfahrzeugsektor spielt die Langlebigkeit der verbauten Komponenten aufgrund von hohen Leistungsansprüchen der Betreiber eine übergeordnete Rolle. Der über die Laufleistung durch das Befahren von Schlechtwegstrecken massiv durch Einschnitte und ausgebrochenes Gummimaterial geschädigte Laufstreifen eines Reifens soll dennoch zuverlässig Längs- und Seitenkräfte übertragen, um die Fahrsicherheit stets zu gewährleisten.

Am Institut für Fahrzeugsystemtechnik des KIT wird daher an der Übertragung von Feldversuchen auf einen Prüfstandtest geforscht, um wichtige Erkenntnisse über die Entstehung und den Fortschritt des Cut and Chip-Schadensbildes unter definierten Bedingungen zu erlangen. Ein weiteres Ziel der hiesigen Forschungskooperation ist die automatisierte und objektive Bewertung des Cut and Chip Schadensbildes, welche heutzutage von speziell geschultem Fachpersonal erstellt wird.